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天士立 IGBT直流参数测试仪 ST-DC2002
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天士立 IGBT模块静态参数测试系统 ST-DC6500
测试种类:IGBT模块 输出能力:电压标配MAX 6500V(可扩展) ;电流标配MAX 1600A(可扩展) 测试参数:IGBT模块静态直流全参数 工作模式:程控脉冲式测试,测试连接可以
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天士立 IGBT功率循环试验系统 ST-PCX
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天士立 IGBT模块动态特性测试系统 ST-AC3500
测试种类:大功率IGBT模块;测试参数:开关特性;栅极特性Qg;反恢特性Qrr_FRD;栅极阻容特性和短路雪崩特性可选配
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天士立 晶体管动态参数测试系统 ST-AC1200
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天士立 IGBT模块动静态全自动产线 TSLT-AL
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天士立 元器件直流参数测试仪 ST-DC1600
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天士立 环境老化试验系统 ST-HTXB
适用于各种封装类型的 Diode、BJT、MOS-FET、SCR、桥堆、IGBT 单管/模块、IPM 模块等环境老化试验
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天士立 可控硅参数测试仪 SCR-DC12V
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天士立 分立器件静态参数测试系统 STD2000
测试对象:DIODE、MOSFET、IGBT、JFET、SCR、TRIAC、OPTO等25类半导体分立器件 测试项目:导通参数,截止参数,传输参数等,几乎涵盖所有静态参数 输出能力:电压MAX
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